1. Methodus repraesentationis graduum chalybis siliconici Sinensis:
(1) Lamina (taenia) chalybis siliconici non orientati, frigide laminata
Modus repraesentationis: 100 vicibus DW + valor iacturae ferri (valor iacturae ferri per unitatem ponderis ad frequentiam 50HZ et valorem culminis inductionis magneticae sinusoidalis 1.5T) + 100 vicibus valoris crassitudinis.
Exempli gratia, DW470-50 chalybem siliconis non orientatum, frigide laminatum, cum valore amissionis ferri 4.7w/kg et crassitudine 0.5mm repraesentat. Novum exemplar nunc ut 50W470 repraesentatur.
(2) Lamina (taenia) chalybis siliconici orientati frigide laminati
Modus repraesentationis: Centies DQ + valor iacturae ferri (valor iacturae ferri per unitatem ponderis ad frequentiam 50HZ et valorem culminis inductionis magneticae sinusoidalis 1.7T) + centumes valoris crassitudinis. Interdum G post valorem iacturae ferri additur ad inductionem magneticam magnam significandam.
Exempli gratia, DQ133-30 laminam (taenam) chalybis siliconici orientati frigide laminatam cum valore amissionis ferri 1.33 et crassitudine 0.3mm repraesentat. Novum exemplar nunc ut 30Q133 repraesentatur.
(3) Lamina chalybis siliconici calida laminata
Laminae chalybis siliconici calido laminatae per DR repraesentantur et secundum contentum siliconis in chalybem siliconis humilis (contentum siliconis ≤ 2.8%) et chalybem siliconis alti (contentum siliconis > 2.8%) dividuntur.
Modus repraesentationis: DR + 100 vicibus valoris iacturae ferri (valor iacturae ferri per unitatem ponderis cum maximus valor intensitatis inductionis magneticae cum magnetizatione repetita 50HZ et mutatione sinusoidali 1.5T est) + 100 vicibus valoris crassitudinis. Exempli gratia, DR510-50 repraesentat laminam chalybis siliconici calidi laminatam cum valore iacturae ferri 5.1 et crassitudine 0.5mm.
Gradus laminae chalybis siliconici calidi laminatae ad apparatum domesticum destinatae per JDR + valorem iacturae ferri + valorem crassitudinis repraesentatur, ut puta JDR540-50.
2. Modus repraesentationis graduum chalybis siliconici Iaponici:
(1) Lamina chalybis siliconici non orientati, frigida et laminata
Constat ex crassitudine nominali (valore centies dilatato) + numero codicis A + valore amissionis ferri certo (valore obtento valore amissionis ferri centies dilatato cum frequentia 50HZ est et maxima densitas fluxus magnetici 1.5T).
Exempli gratia, 50A470 laminam chalybis siliconici non orientati, frigide laminatam, crassitudine 0.5 mm et valore iacturae ferri garantito ≤4.7 repraesentat.
(2) Lamina chalybis siliconici orientati frigide laminata
Ex crassitudine nominali (valore centies dilatato) + codice G: materias ordinarias indicat, P: materias altae orientationis indicat + valorem iacturae ferri garantitam (valorem iacturae ferri centies dilatans cum frequentia 50HZ est et maxima densitas fluxus magnetici 1.7T post valorem).
Exempli gratia, 30G130 laminam chalybis siliconici orientati frigide laminatam crassitudine 0.3mm et valore iacturae ferri garantito ≤1.3 repraesentat.
Tempus publicationis: IX Aprilis MMXXIV